近日，裕太微研发团队成功举办“Technicalday——Functioncoverage”专题技术研讨会。

本次活动围绕功能覆盖率建模、测试点分解、验证闭环流程等关键议题展开深入研讨，来自

上海、南京、苏州等多地办公室的验证与设计骨干积极参与，共同探索提升验证效率与完备

性的系统方法。

会议上午场以从“定向测试”到“随机验证”，从“盲目摸索”到“精准抵达”为主题，重点探讨

了功能覆盖率在验证量化管理中的核心价值。与会成员一致认为，传统依赖代码覆盖率与主

观判断的验证方式已难以应对芯片复杂度的提升，必须向基于功能覆盖率的随机验证方法转

型。通过案例解析，会议明确了从设计规范（spec）出发、构建结构化覆盖率模型的重要

性，并详细讲解了covergroup、coverpoint、bins与cross等关键语法要素，以及权重分

配、采样位置选择等实施策略。

下午场聚焦“验证闭环流程优化”，系统介绍了从设计规范到测试计划、覆盖率建模再到

结果反标的完整流程。会议提出了“验证友好型Spec”理念，强调通过数据流图、接口描述、

状态机示意图等形式提升文档可验证性。同时，通过实际案例展示了如何运用等价类划分、

边界值分析、应用场景法等系统化方法分解测试点，并实现覆盖率数据自动反标至测试计划，

形成可追溯、可量化的验证闭环。

本次活动延续了裕太Technicalday系列“开放、包容、交流、成长”的宗旨，不仅为技

术人员提供了分享实践经验、探讨前沿方法的平台，也进一步打破了部门壁垒，促进了跨团

队协作与知识共享。未来，裕太微将继续围绕验证方法学、工具链整合、流程自动化等方向

开展专题研讨，持续推动验证能力提升与产品高质量交付。